下降試験

単体テストおよび結合テストにおける手法の一つ。単体テストが完了したモジュールのうち、上位モジュールから順に結合させてテストを行なう。この手法の利点は、仕様的な振る舞いを決定する上位モジュールを早期に検証することによって、機能漏れ、仕様の認識違いなどの致命的な不具合を、開発の早い段階で発見できることにある。一方で、数の多い下位モジュールの検証が先送りされるため、開発と平行してテストを進めにくいという欠点もある。

  • トップダウンテストを行う際には「テストスタブ」を用意しなければならない。

[参考:Wikipedia]

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